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Serie 378 – Unidad de Microscopio para Inspección de Semiconductores

El sistema óptico FS60 desarrollado originalmente uno de los más los más demandados se mejoró aún más con los modelos FS70. Es ideal como unidad de microscopio de una estación de investigación de semiconductores (todos los modelos de la marca CE)
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FS70
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FS70S
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FS70TH
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FS70THS
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